Каталог Cryosystems
Контактные и оптические методы измерения рельефа, шероховатости и свойств тонких плёнок. В разделе представлены профилометры, атомно-силовые микроскопы и эллипсометры.
Системы Ntegra SPECTRA и Ntegra SNOM для совмещения зондовых и оптических исследований поверхности.
Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 5Системы NTEGRA и uSTEP300 для сканирующей зондовой микроскопии и исследования свойств поверхности.
Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 11Профилометры SURFIEW для исследования топографии поверхности, калибровочные образцы, оптика и метрологическое программное обеспечение.
Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 4Контактные профилометры JS10С, JS100C, JS200C и JS3000C. Сравните диапазоны перемещения и параметры измерения профиля поверхности.
Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 7Лазерные и спектральные эллипсометры MUL, рефлектометры и установки контроля эпитаксиальных структур. Выбор определяется материалом плёнки и способом измерения.
Открыть раздел →Укажите материал и размеры образца, диапазон высот, измеряемые свойства и необходимость автоматического сканирования.
