Атомно-силовые микроскопы
NTEGRA MFM – АСМ для углубленного изучения магнитных характеристик материалов, в том числе при воздействии магнитного поля.
|
Сканирующая Зондовая Микроскопия
|
||
|---|---|---|
| Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/ | ||
|
Технические характеристики
|
Тип сканирования
|
|
| Сканирование образцом | ||
| Размер образца | До 40 мм в диаметре, до 15 мм в высоту |
|
| Вес образца | До 100 г | |
| XY позиционирование образца | 5×5 мм | |
| Разрешение позиционирования | разрешение – 5 мкм минимальное перемещение – 2 мкм |
|
| Поле сканирования | 100x100x10 мкм 3x3x2,6 мкм не более 1x1x1 мкм |
|
| До 200x200x20 мкм**(метод DualScanTM) | ||
| Нелинейность, XY (с датчиками обратной связи) |
0.1% | |
| Уровень шума, Z (СКВ в полосе 1000 Гц) |
С датчиками | 0.04 нм (типично), 0.06 нм |
| Без датчиков | 0.03 нм | |
| Уровень шума, XY*** (СКВ в полосе 200 Гц) |
С датчиками | 0.2 нм (типично), 0.3 нм (XY 100 мкм) |
| Без датчиков | 0.02 нм (XY 100 мкм), 0.001 нм (XY 3 мкм) |
|
| Ошибка измерения линейных размеров (с датчиками) |
±0.5% | |
| Система видеонаблюдения | Оптическое разрешение | 1 мкм (0.4 мкм по требованию, NA 0.7)**** |
| Поле зрения | 4.5-0.4 мм | |
| Непрерывный зум | возможно | |
| Виброизоляция | Активная | 0.7-1000 Гц |
| Пассивная | выше 1 кГц | |
NTEGRA MFM – АСМ для углубленного изучения магнитных характеристик материалов, в том числе при воздействии магнитного поля.
Магнитная силовая микроскопия (МСМ) основана на регистрации взаимодействия между образцом и магнитным зондом и позволяет получать изображение пространственного распределения магнитных сил по поверхности образца. Применение методов МСМ дает возможность изучать характеристики магнитных носителей, магнитную структуру магнетиков, достигая при этом субмикронного разрешения, магнитные поля токовых шин и т.п.
Особенностью прибора NTEGRA MFM является то, что большая часть деталей измерительной МСМ–головки и сменного основания выполнены из немагнитных материалов, что позволяет избежать изменения положения зонда при изменении магнитного поля.
Для получения магнитного поля в NTEGRA MFM используется постоянный магнит. Изменение величины магнитного поля осуществляется за счет поворота магнита. Такая конструкция с вращающимся постоянным магнитом выгодно отличается от электромагнита и соленоида отсутствием выделения тепла, термодрейфа образца и механической вибрации вследствие прохождения охлаждающей жидкости. Кроме того, такая конструкция имеет малые габариты и вес. В качестве магнита, генерирующего магнитное поле используется сплав NdFeB, а магнитопроводы выполнены из перемендюра. Конструкция генератора магнитного поля разработана таким образом, что в пределах одного держателя образца существуют области с продольным и поперечным магнитным полем. Таким образом, в зависимости от расположения образца на подложке можно проводить измерения либо в продольном, либо в поперечном магнитном поле. Датчик Холла расположен непосредственно под образцом, между магнитопроводами.
Возможно использовать как вертикальные (до ±1100 Гс), так и горизонтальные (до ±2500 Гс) магнитные поля.
NTEGRA MFM – позволяет проводить исследования магнитной доменной структуры образцов методами магнитно-силовой микроскопии и комбинации MFM и поляризационных SNOM методик для возможности оптической визуализации доменной структуры со сверхвысоким оптическим разрешением. NTEGRA MFM позволяет получать данные о магнитных характеристиках образца с одной и той же его области как с помощью магнитных кантилеверов так и немагнитных апертурных кантилеверов, исключая возможность взаимного влияния зонда и образца друг на друга во время сканирования. Информация о морфологии образца собирается одновременно с данными о магнитных характеристиках с той же самой области образца.
В запросе укажите NTEGRA MFM. Укажите материал и размеры образца, диапазон высот, измеряемые свойства и необходимость автоматического сканирования.
