Каталог Cryosystems
Системы NTEGRA и uSTEP300 для сканирующей зондовой микроскопии и исследования свойств поверхности.
NTEGRA Academia - это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного процесса. Методические материалы в комплекте служат для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.
Характеристики и описание →NTEGRA Aura – АСМ для измерений морфологии, электрофизических и магнитных характеристик материалов в вакууме и контролируемой атмосфере.
Характеристики и описание →NTEGRA MFM – АСМ для углубленного изучения магнитных характеристик материалов, в том числе при воздействии магнитного поля.
Характеристики и описание →NTEGRA Prima – НаноЛаборатория, поддерживающая все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований.
Характеристики и описание →Единая платформа для неразрушающего контроля пластин диаметром до 300мм.
Характеристики и описание →Укажите материал и размеры образца, диапазон высот, измеряемые свойства и необходимость автоматического сканирования.
