Атомно-силовые микроскопы
NTEGRA Academia - это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного процесса. Методические материалы в комплекте служат для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.
|
Сканирующая Зондовая Микроскопия
|
||
|---|---|---|
| На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) | ||
| Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/ | ||
|
Технические характеристики
|
Тип сканирования
|
|
| Сканирование образцом | ||
| Размер образца | До 40 мм в диаметре, до 15 мм в высоту |
|
| Вес образца | До 100 г | |
| XY позиционирование образца | 5×5 мм | |
| Разрешение позиционирования | разрешение – 5 мкм минимальное перемещение – 2 мкм |
|
| Поле сканирования | 100x100x10 мкм 3x3x2,6 мкм не более 1x1x1 мкм |
|
| До 200x200x20 мкм**(метод DualScanTM) | ||
| Нелинейность, XY (с датчиками обратной связи) |
0.1% | |
| Уровень шума, Z (СКВ в полосе 1000 Гц) |
С датчиками | 0.04 нм (типично), 0.06 нм |
| Без датчиков | 0.03 нм | |
| Уровень шума, XY*** (СКВ в полосе 200 Гц) |
С датчиками | 0.2 нм (типично), 0.3 нм (XY 100 мкм) |
| Без датчиков | 0.02 нм (XY 100 мкм), 0.001 нм (XY 3 мкм) |
|
| Ошибка измерения линейных размеров (с датчиками) |
±0.5% | |
| Система видеонаблюдения | Оптическое разрешение | 1 мкм (0.4 мкм по требованию, NA 0.7)**** |
| Поле зрения | 4.5-0.4 мм | |
| Непрерывный зум | возможно | |
| Виброизоляция | Активная | 0.7-1000 Гц |
| Пассивная | выше 1 кГц | |
NTEGRA Academia – это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного процесса. Методические материалы в комплекте служат для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.
NTEGRA Academia поддерживает более 40 методик измерения, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Эксперименты можно проводить не только с помощью обычных кремниевых кантилеверов, но и с помощью вольфрамовой проволоки, которая является расходным материалом и проста в использовании в учебных целях.
Специальное устройство для создания вольфрамовых зондов методом электрохимического травления, позволяющее самим студентам оттачивать вольфрамовые зонды.
Сменный сканер с емкостными датчиками с диапазоном сканирования в режиме высокого напряжения (X × Y × Z); 100х100х10 мкм, в режиме низкого напряжения (X × Y × Z); 3x3x2 мкм Минимальный шаг сканирования: 2 нм.
Программное обеспечение Nova SPM для высокоэффективного управления СЗМ и обработки изображений.
Электроника нового поколения обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта функция представляется основной для работы с высокочастотными режимами АСМ и использованием высокочастотных кантилеверов. АСМ для обучения.
Оборудование поверено и внесено в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 84445-22.
В запросе укажите NTEGRA ACADEMIA. Укажите материал и размеры образца, диапазон высот, измеряемые свойства и необходимость автоматического сканирования.
