Одноколонные сканирующие электронные микроскопы
Термоэмиссионный СЭМ с вольфрамовым катодом
7.0 нм (при 3 кВ), SE;
4.0 нм (при 30 кВ), BSE
T: -10°…+90°,
R: 360°
| Электронная колонна | |
|---|---|
| Тип электронной пушки | Термоэмиссионная, вольфрамовый катод |
| Разрешение | 3.0 нм (при 30 кВ), SE;
7.0 нм (при 3 кВ), SE; 4.0 нм (при 30 кВ), BSE |
| Ускоряющее напряжение | 0.2 кВ – 30 кВ |
| Увеличение | 1 – 300 000 × |
| Система детекторов | |
| Детектор вторичных электронов (ETD) | Базовая комплектация |
| Выдвижной детектор обратнорассеянных электронов (BSED) | Опция |
| Режим низкого вакуума (5-1000 Па) | Опция |
| Столик и камера | |
| Перемещения столика | X=125 мм, Y=125 мм, Z=50 мм,
T: -10°…+90°, R: 360° |
| Система навигации | Оптическая навигация + камеры мониторинга камеры |
| Программное обеспечение | |
| Операционная система | Windows |
| Автоматические функции | Автояркость/контраст, автофокус, коррекция астигматизма |
| Аналитические опции | |
| Микрорентгеноспектральный анализатор (EDS) | Опция |
| Система дифракционного анализа (EBSD) | Опция |
| Автоматическая шлюзовая камера для образцов | Опция |
Сканирующий электронный микроскоп HR3200 представляет собой универсальный термоэмиссионный прибор с вольфрамовым катодом, предназначенный для решения широкого круга исследовательских и промышленных задач. Конструктивной особенностью микроскопа является двуханодная электронная пушка, которая обеспечивает высокое разрешение и улучшенное отношение сигнал/шум при работе на низких ускоряющих напряжениях. Благодаря продуманной архитектуре и широкому набору опциональных аксессуаров, HR3200 представляет собой гибкую аналитическую платформу с превосходной расширяемостью.
Промежуточный анод, расположенный между катодным узлом и основным анодом, повышает эффективность экстракции электронного пучка при низких напряжениях.
Микроскоп поддерживает две стадии откачки низкого вакуума в диапазоне от 5 до 1000 Па, что позволяет анализировать непроводящие и влажные образцы без нанесения токопроводящих покрытий. Специально сконструированная вакуумная камера объективной линзы минимизирует среднюю длину свободного пробега электронов, сохраняя разрешение на уровне 3 нм при 30 кВ даже в условиях низкого вакуума.
При работе в данном режиме электронный пучок ионизирует молекулы газа над образцом. Образующиеся положительные ионы эффективно нейтрализуют заряжающиеся частицы на поверхности образца, устраняя эффект зарядки. Детектор низкого вакуума (LVD) регистрирует возникающие при этом фотонные сигналы, обеспечивая высококачественное изображение непроводящих биологических и геологических образцов.
 |
 |
|
Изображения полученные в режиме низкого вакуума
|
|
Платформа HR3200 отличается высокой степенью автоматизации и удобства использования. Интеллектуальная система включает функции автоматической настройки яркости и контрастности, автофокусировки и коррекции астигматизма, позволяя получать изображения в один клик. Оптическая навигация с помощью вертикально установленной камеры обеспечивает интуитивно точное позиционирование образца. Для обеспечения безопасности применяется комплекс мер, включающий инфракрасный мониторинг внутренней камерой, программные и аппаратные средства защиты от столкновений. Процесс замены катода (вольфрамовой нити) максимально упрощен за счет использования предварительно юстированных сменных модулей.
 |
 |
|
Стальные включения/15 кВ/Детектор BSED |
Стальные включения/15 кВ/Детектор SE |
 |
 |
|
Обычный чип/10 кВ/Детектор SE |
Крахмальные гранулы/10 кВ/SE |
 |
 |
|
Электроспиннинг/5 кВ/Детектор SE |
Cульфат магния/15 кВ/SE |
 |
 |
|
Биомедицинский образец/15 кВ/Детектор SE |
Микросферы диоксида кремния/20 кВ/SE |
 |
 |
|
Диатомовые водоросли/10 кВ/Детектор SE |
Отсыревшие частицы соли/1 кВ/SE |
В запросе укажите Термоэмиссионный СЭМ HR3200. Укажите материал и размеры образца, требуемое разрешение, методы анализа и необходимость подготовки образцов.
