Оптическая и молекулярная спектроскопия
УФ-Вид, ИК-Фурье, рамановские и смежные спектроскопические методы исследования материалов и образцов.
Оборудование для науки и лабораторий
Научно-исследовательское и аналитическое оборудование
Оборудование для анализа состава и структуры материалов, спектроскопии, микроскопии, исследования поверхности и физических свойств, низкотемпературных экспериментов, подготовки образцов, формирования тонких плёнок и микро- и наноструктур. Выберите направление или передайте техническое задание для подбора оборудования под Вашу исследовательскую задачу.
Основные направления
Спектроскопия и аналитические методы
Методы для определения элементного и молекулярного состава, идентификации соединений, исследования оптических свойств и разделения многокомпонентных смесей.
Атомная спектрометрия
Атомно-абсорбционные и эмиссионные методы, включая AAS и ICP-OES, для определения элементного состава образцов.
Масс-спектрометрия
Системы TOF-MS, квадрупольные ICP-MS, GC-MS и другие конфигурации для качественного и количественного анализа.
Хроматография
Газовая и жидкостная хроматография для разделения компонентов смесей и последующего качественного или количественного анализа.
ЯМР-спектроскопия
Спектрометры ядерного магнитного резонанса для исследования молекулярной структуры и состава веществ.
Подбор аналитической системы
Если метод ещё не определён, подбор можно начать с объекта исследования, требуемого предела обнаружения и типа образца.
Структура и поверхность
Рентгеновские методы и анализ поверхности
Оборудование для исследования кристаллической и электронной структуры, элементного состава, химического состояния и геометрии поверхности материалов.
Рентгеновские методы
Дифракционные, спектроскопические и другие рентгеновские методы для структурного и материаловедческого анализа.
Фотоэлектронная спектроскопия
Полусферические анализаторы и комплексные системы для XPS, ARPES и связанных поверхностно-аналитических методов.
Специализированный анализ поверхности
ER-LEED, Auger, XPS, TOF-SIMS и другие методы исследования поверхностных слоёв и состава материалов.
Метрология поверхности
Контактные и оптические методы измерения рельефа, толщины и характеристик поверхности, включая профилометрию и эллипсометрию.
Визуализация и морфология
Микроскопия и визуализация
Инструменты для наблюдения поверхности, контроля образцов и исследования микро- и наноструктуры материалов.
Оптическая микроскопия
Инспекционные, конфокальные и 3D-микроскопические системы для визуального контроля и исследования образцов.
Электронная микроскопия
Сканирующие и просвечивающие электронные микроскопы, двухколонные системы, аналитические модули и оборудование пробоподготовки.
Сканирующая зондовая и поверхностная метрология
Методы AFM и другие измерительные подходы для локального исследования рельефа и свойств поверхности.
Физический эксперимент
Исследование физических свойств и низкие температуры
Системы для измерения магнитных свойств и проведения экспериментов при контролируемых низких температурах.
Магнетизм и магнитометрия
Вибрационные магнитометры, системы Керр-микроскопии и комплексные измерительные решения для исследования магнитных свойств материалов.
Криостаты для исследований
Криостатные системы для низкотемпературных экспериментов и исследования физических свойств образцов.
Комплексная экспериментальная система
Для многопараметрических экспериментов состав установки определяется совместно: температура, магнитное поле, вакуум, геометрия образца и измерительные каналы.
Подготовка и формирование структур
Формирование микро- и наноструктур
Оборудование для литографии, осаждения, травления и обработки поверхности в исследовательских и технологических задачах.
Литография
Лазерная, электронно-лучевая и наноимпринтная литография для формирования микро- и наноструктур.
Травление и осаждение
Установки магнетронного, ионного, термического, электронно-лучевого и газофазного осаждения, а также плазменной обработки.
Технологические процессы
CVD, PVD, ионная имплантация, эпитаксия, очистка поверхности и плазменное травление представлены также в технологическом каталоге.
Смежные направления
Дополнительное оборудование для исследовательских и лабораторных задач
Термические, климатические и вакуумные системы, которые используются при подготовке образцов, проведении экспериментов и создании контролируемых условий.
Вакуумные печи
Термическая обработка материалов в вакууме с различной компоновкой и способом загрузки.
Атмосферные и высокотемпературные печи
Системы для лабораторной и технологической термообработки материалов в заданных температурных режимах.
Климатические камеры
Оборудование для воспроизведения заданных температурных и влажностных условий при исследованиях и испытаниях.
Экспериментальная вакуумная оснастка
- порты наблюдения, заслонки, двери и вакуумные вводы;
- линейные, многоосевые и нагреваемые манипуляторы образца;
- термические и электронно-лучевые испарители;
- высоковакуумные магнетроны, вращательные платформы и вспомогательные узлы.
Комплектация исследовательской установки
Если требуется не отдельный прибор, а комплексная система, подбор ведётся с учётом вакуума, температуры, состава измерительных модулей, механических интерфейсов и существующей инфраструктуры.
Подбор по задаче
От исследовательской задачи к методу
Если класс оборудования ещё не определён, начните с измеряемого параметра, типа образца и условий эксперимента.
Определить элементный состав
Атомная спектрометрия, ICP-MS, XRF и другие методы элементного анализа.
Исследовать молекулярный состав и структуру
УФ-Вид, ИК-Фурье, рамановская, масс- и ЯМР-спектрометрия.
Исследовать поверхность и электронную структуру
XPS, ARPES, Auger, TOF-SIMS, ER-LEED и методы метрологии поверхности.
Исследовать морфологию
Оптическая, конфокальная, 3D- и электронная микроскопия.
Измерить физические свойства
Магнитометрия, низкотемпературные измерения и комплексные экспериментальные системы.
Сформировать или обработать структуру
Литография, осаждение тонких плёнок, травление и обработка поверхности.
Нужно подобрать оборудование под исследовательскую задачу?
Опишите объект исследования, требуемый метод или измеряемые параметры, условия эксперимента и ограничения по интеграции. Подготовим конфигурацию оборудования и индивидуальное коммерческое предложение с учётом Ваших технических требований.
Актуальные предложения и ключевые направления
