Каталог Cryosystems

Рентгеновские методы

Дифракция, фотоэлектронная спектроскопия, спектроскопия поглощения и специализированная спектральная оптика. Выбор системы зависит от структуры образца и измеряемой характеристики.

Выбрать оборудование

Оборудование по задаче

Позиций и подкатегорий: 1

Монокристальные рентгеновские дифрактометры

Монокристальная дифракция для исследования кристаллической структуры. Ознакомьтесь с устройством и характеристиками TD-5000.

Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 20

Порошковые рентгеновские дифрактометры

Стационарные и настольные дифрактометры, варианты детекторов и оснастка для фазового анализа, тонких плёнок и измерения остаточных напряжений.

Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 2

Системы рентгеновской спектроскопии поглощения XAFS

Оборудование исследования поглощения рентгеновского излучения: описание систем, измерительных конфигураций и характеристик.

Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 5

Системы фотоэлектронной спектроскопии XPS

Системы XPS-ESCA, XPS-NAP, XPS-VERSA, HR-ARPES и MM-ARPES для исследования поверхности и электронной структуры материалов.

Открыть раздел →Позиций и подкатегорий: 27

Спектрометры и монохроматоры

Спектрометры, монохроматоры и экспериментальные узлы для рентгеновского, ультрафиолетового и инфракрасного диапазонов. Состав оборудования выбирают под спектральную задачу.

Открыть раздел →