Стилусные профилометры

Стилусный профилометр JS10С

Бесшовное сканирование до 55 мм. Размер образцов до 150 мм.

Стилусный профилометр JS10С

Технические характеристики

Модель стилусного профилометра

JS10C

Повторяемость измерения

≤ 0.5 нм (1 σ, 30 сканов эталона 1 мкм)

Макс. диапазон измерения

160 мкм

Вертикальное разрешение

0.05 нм

Конструкция

Настольная

Максимальный размер образцов

⌀ 150 мм

Толщина образца

50 мм

Тип контроля столика

Ручное управление (X/Y, поворот)

Поворотный столик (Rθ)

±360°

Максимальная длина сканирования

55 мм

Скорость сканирования

5 мкм/с ~ 100 мкм/с

Усилие давления стилуса

0.5 ~ 50 мг (постоянный контроль)

Макс. количество точек сканирования

2 000 000 точек

Направление сканирования

Двунаправленное (влево-вправо)

Зонд

Стандартный (Радиус закругления ≥ 2 мкм, угол 60°)
Субмикронный (Радиус закругления ≤ 1 мкм, угол 60°)

Частота съема данных (АЦП)

200 Гц

Программное обеспечение

Измерение ступеней, шероховатости, плоскостности, коробления, 3D-измерения, измерение напряжений

Комплектация

–        стилусный профилометр;

–        управляющий ПК и ПО;

–        набор зондов;

–        ИБП On-line типа.

Опции Калибровочные образцы, виброплатформа

Измерительная схема и анализ поверхности

Стилусный профилометр JS10С — это высокоточный зондовый измеритель, предназначенный для 2D-сканирования образцов с высоким разрешением, а также измерения напряжения в пленках и других тонких образцах. Модель подходит для измерения профиля поверхности полупроводниковых пластин в контактном режиме в микроэлектронике (контроль шероховатости, измерение краевых эффектов и др.). Прибор можно использовать как при работе в исследовательских лабораториях, так и для образовательных учреждений. Устройство подойдёт также для проведения измерений в высокоточной механике, анализа изделий после металлообработки и других задач.

Зондовый профилометр JS10С обладает функцией бесшовного сканирования поверхности (размер до 55 мм). Ручной столик позволяет размещать пластины и другие образцы диаметром до 150 мм. Встроенная высокоточная система контроля нажатия стилуса обеспечивает превосходную линейность и максимально возможное вертикальное разрешение до 0.05 нм. Отличие напольной системы JS100C от модели JS10C заключается в наличие автоматизированного столика образцов, функции 3D сканирования и анализа топографии, наличия виброоснования на базе гранитной плиты и расширенных портов доступа для управления системой. Ближайшие аналоги JS10C— стилусные профилометры KLA Tencor (линейка AlphaStep), Bruker (линейка Dektal), Taylor Hobson (линейка Talysurf) и другие.

Ближайшие аналоги JS10С — стилусные профилометры KLA Tencor, Taylor Hobson, Bruker Alphastep и другие.

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений

Воспроизводимость измерения высоты <0.5 нм (при измерении ступени 1 мкм (1σ) при сканировании до 30 раз)

Стилусный профилометр JS10С имеет опциональную пассивную систему виброизоляции, которая повышает точность измерений в условиях вибраций. Профилометр опционально поставляется с программным обеспечением, позволяющим легко анализировать полученные данные. Также доступны опции для интеграции в чистые помещения (FFU-модуль),  автоматизированные линии и стилусные зонды разной конфигурации с алмазным наконечником.

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Диаметр скругления зонда ≤ 1 мкм

 

Диаметр скругления зонда ≥ 2 мкм

Особенности стилусного профилометра серии JS10С:

  • Быстрый бесконтактный неразрушающий замер 2D-текстуры образца.
  • Измерение шероховатости образца, кривизны поверхности, толщины пленок, анализ дефектов (микротрещины, сколы, царапины) и др.
  • Ручной столик для образцов диаметром до 150 мм и толщиной до 50 мм.
  • Возможность проведения сканирования образца без необходимости прерывания и сшивки профилей на расстоянии до 55 мм.
  • Система постоянного контроля усилия давления стилуса (0.5–50 мг).
  • Вертикальное разрешение до 0.05 нм
  • Превосходная плоскостность сканирования — менее 20 нм в пределах 2 мм.

Опции:

  • Расширенный ЗИП набор (набор опциональных зондов, сервисный набор).
  • Тестовая пластина (проверка плоскостности сканирования).
  • ИБП On-line типа (время автономной работы: 5 мин.).
  • Активная виброизоляционная платформа.

Примеры применения:

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Контроль толщины слоя металлизации

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Контроль нанесения фоторезиста

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Анализ толщины пленки

Внешний вид измерительного ПО:

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Интерфейс контрольной CCD камеры

Стилусный профилометр JS10С — иллюстрация оборудования и измерений
 

Процесс измерения 2D профиля

Стилусный профилометр серии JS представлен в демонстрационной лаборатории нашей компании. Вы можете ознакомиться с работой профилометра в действии и оценить его ключевые преимущества на практике.

О производителе:

О компании:

Другие разделы и оборудование

Запросить КП

В запросе укажите Стилусный профилометр JS10С. Укажите материал и размеры образца, диапазон высот, измеряемые свойства и необходимость автоматического сканирования.

Cookie-файлы
Настройка cookie-файлов
Детальная информация о целях обработки данных и поставщиках, которые мы используем на наших сайтах
Аналитические Cookie-файлы Отключить все
Технические Cookie-файлы
Другие Cookie-файлы
Мы используем файлы Cookie для улучшения работы, персонализации и повышения удобства пользования нашим сайтом. Продолжая посещать сайт, вы соглашаетесь на использование нами файлов Cookie. Подробнее о нашей политике в отношении Cookie.
Понятно Подробнее
Cookies