Стилусный профилометр JS100C

Стилусный профилометр JS100C — это высокоточный зондовый измеритель, предназначенный для 2D/3D-сканирования образцов с вертикальным разрешением до 0.05 нм. Модель подходит для анализа профиля поверхности полупроводниковых пластин, оптических компонентов и других материалов в условиях промышленного производства и научных исследований. Прибор используется в микроэлектронике, аэрокосмической отрасли, энергетике, а также для контроля качества в металлообработке и материаловедении.

Зондовый профилометр JS100C обладает функцией бесшовного сканирования поверхности (размер до 55 мм). Моторизованный столик позволяет размещать образцы диаметром до 150 мм и толщиной до 50 мм. Встроенная высокоточная система контроля нажатия стилуса обеспечивает превосходную линейность и вертикальное разрешение до 0.05 нм. Отличие этой модели от модели JS10C заключается в наличие автоматизированного столика образцов, функции 3D сканирования и анализа топографии, наличия виброоснования на базе гранитной плиты и расширенных портов доступа для управления системой. Ближайшие аналоги JS100C— стилусные профилометры KLA Tencor (линейка AlphaStep), Bruker (линейка Dektal), Taylor Hobson (линейка Talysurf) и другие.

Воспроизводимость измерения высоты <0.5 нм (при измерении ступени 1 мкм (1σ) при сканировании до 30 раз)

Стилусный профилометр JS100C оснащен встроенной пассивной виброизоляцией, что гарантирует стабильность измерений даже в условиях промышленных вибраций. Прибор поставляется с расширенным ПО для анализа 3D-топографии, дефектоскопии и контроля микрорельефа. Также доступны опции для интеграции в чистые помещения (FFU-модуль),  автоматизированные линии и стилусные зонды разной конфигурации с алмазным наконечником.

Диаметр скругления зонда ≤ 1 мкм	Диаметр скругления зонда ≥ 2 мкм

Особенности стилусного профилометра серии JS100C:

• Быстрый неразрушающий замер 2D/3D-текстуры образца.
• Измерение шероховатости, кривизны, толщины пленок, анализ дефектов (трещины, сколы, царапины).
• Моторизованный столик для образцов диаметром до 300 мм и толщиной до 50 мм.
• Бесшовное сканирование до 55 мм без прерывания и сшивки профилей.
• Система контроля усилия стилуса (0.5–50 мг) с постоянной обратной связью.
• Вертикальное разрешение до 0.05 нм.
• Плоскостность сканирования — менее 20 нм в пределах 2 мм.

Опции:

• Расширенный ЗИП набор (набор опциональных зондов, сервисный набор).
• Тестовая пластина (проверка плоскостности сканирования).
• ИБП On-line типа (время автономной работы: 5 мин.).
• Опция сканирования мотором (для объектов высотой до 1мм).
• Опциональное продвинутое метрологическое (анализ профилей и поверхностей, частиц, вычитание шероховатости и др.)

Примеры применения:

Контроль толщины слоя металлизации

Контроль нанесения фоторезиста

Анализ толщины пленки

Внешний вид измерительного ПО:

Интерфейс контрольной CCD камеры

Процесс измерения 2D профиля

Анализ 3д топографии

Стилусный профилометр серии JS представлен в демонстрационной лаборатории нашей компании. Вы можете ознакомиться с работой профилометра в действии и оценить его ключевые преимущества на практике.

О производителе:

О компании: