Sanwood Technology · Испытательное оборудование
Оборудование для исследования деградации материалов и электроники под действием света, температуры и влаги. Выбор зависит от механизма старения: светостойкости покрытия, проникновения влаги в корпус компонента или работы электронного изделия под нагрузкой.
Один источник воздействия не заменяет остальные. Спектр, температура образца, влажность и электрическая нагрузка должны соответствовать исследуемому механизму деградации.
Для полимеров, покрытий и других материалов, чувствительных к ультрафиолету. В линейке представлены исполнения с лампами UV-A340 и UV-B313; тип лампы и программа выбираются по методике, а не только по мощности.
Для исследования светостойкости и климатического старения. Набор светофильтров определяет имитируемое излучение: дневной свет, прохождение через стекло или другой требуемый спектральный режим.
Для программ, где требуется воздействие солнечного излучения на изделие или материал, в том числе совместно с температурой и влажностью. Спектр, площадь и равномерность облучения задаются для всей рабочей поверхности.
Для электронных корпусов и влагочувствительных компонентов. Камера создаёт сочетание высокой температуры, влажности и давления, позволяющее исследовать проникновение влаги, изменение изоляции и электрических параметров.
Для проверки электроники в длительных температурных режимах с электрической нагрузкой и контролем параметров. Система SM-BIB2-C имеет две испытательные зоны; состав оснастки и каналов согласуют под изделия.
Специализированные температурные системы для накопителей и электронных устройств. При выборе важно рассматривать температурный диапазон вместе с полной загрузкой, рассеиваемой мощностью и способом подключения.
Сначала определяют исследуемый отказ и контролируемые свойства. Уже после этого выбирают источник света или комбинацию климатических и электрических факторов.
| Задача | Тип оборудования | Что включить в методику |
|---|---|---|
| УФ-деградация материала | UV-камера | Тип лампы, спектральная интенсивность, выдержки |
| Светостойкость и изменение цвета | Ксеноновая камера | Фильтры, температура чёрной панели, влажность |
| Воздействие солнечного излучения на изделие | Солнечный имитатор | Спектр, площадь, равномерность и климатический режим |
| Ускоренная влагостойкость корпусов | HAST | Температура, RH, давление, наличие электрического смещения |
| Длительное влажное тепло | Камера Double 85 | Режим 85 °C/85 %RH, длительность и измерения |
| Электронное изделие под нагрузкой | Burn-in / специализированная температурная система | Питание, тепловыделение, контроль функций и запись результатов |
Температура воздуха, температура чёрной панели и температура самого образца — разные величины. Интенсивность облучения сравнивают только при одинаковой спектральной полосе и способе измерения.
Цель программы — вызвать и измерить нужный механизм деградации. Повышение температуры или интенсивности без обоснования может изменить характер отказа и сделать результаты несопоставимыми.
Согласуют лампы, фильтры, спектральную область контроля, расстояние до образцов и температурные датчики. Номинальная мощность лампы не равна интенсивности на образце.
Проверяют совместимость образца с температурой/RH, наличие электрического смещения и критерии окончания. Для HAST отдельно согласуют абсолютное или избыточное давление и защиту сосуда.
Тепловыделение включённых изделий и плотность оснастки влияют на температуру загрузки. Задают каналы питания, измерений, логику отказа и привязку результата к каждому изделию.
Эти данные помогут сопоставить оборудование с испытательной программой и подготовить технически обоснованную конфигурацию.
Покрытие/материал/электроника, целевые свойства и ожидаемые изменения.
Лампы/фильтры/спектр либо температура, RH и давление; длительности и циклы.
Число образцов, геометрия, электрическое питание, выделяемое тепло, датчики.
Периодичность контроля, критерии отказа, идентификация образцов и формат данных.
Нет. Источники имеют разный спектр и систему фильтрации. Для сравнения нужны спектральная область, интенсивность на образце, температура и остальные параметры методики.
Это разные виды воздействия: HAST добавляет повышенное давление и другую область температуры/влажности. Замену допускает только соответствующая методика испытания.
Универсального коэффициента нет. Пересчёт требует обоснованной модели ускорения, конкретного материала или изделия и подтверждённого механизма отказа.
Укажите материал или электронное изделие, механизм деградации, методику, режимы и критерии результата. Для электроники добавьте данные о питании и тепловой нагрузке.
