Sanwood Technology · Испытания электроники и серверного оборудования

Автоматизированные испытательные системы Sanwood

Оборудование для внутрисхемного и функционального контроля электронных плат, проверки серверных узлов и автоматизации испытаний мощных источников питания. Конфигурация подбирается под изделие, программу испытаний, требуемый такт и способ встраивания в производственный процесс.

Сравнить типы решений

Автоматизированное решение Sanwood для производства и испытаний серверных источников питания

ICT / FCTвнутрисхемный и функциональный контроль электронных плат и узлов

PCIe Gen6 / PAM4поддержка высокоскоростных сигналов в стендах функционального контроля материнских и объединительных плат

От стенда до линиимасштаб автоматизации определяется изделием, программой испытаний и производственным маршрутом

Выбор по объекту и этапу испытаний

Подбор начинают не с названия оборудования, а с того, что именно требуется проверить: электрические соединения платы, работу узла или последовательность операций на производственной линии.

Внутрисхемный контроль (ICT)Проверка соединений, коротких замыканий, обрывов и параметров компонентов с помощью контактной оснастки.Вакуумная оснастка ICT → Функциональный контроль (FCT)Проверка работы платы или узла по заданным сценариям, интерфейсам и электрическим параметрам.Стенды FCT → Автоматизированный маршрутОбъединение загрузки, испытательных операций, обработки результата и передачи изделия между этапами.Автоматизированная линия →

Оборудование Sanwood для автоматизированных испытаний

Линейка включает решения для серверной электроники и смежные системы испытаний на надёжность. Конкретный состав оборудования определяется типом изделия, интерфейсами, требуемым покрытием испытаниями и условиями производства.

Автоматизированная линия

Линия для серверных источников питания

Полностью автоматизированное решение Sanwood для мощных блоков питания серверов, вычислительных систем ИИ, графических ускорителей и центров обработки данных.

Автоматизация последовательности производственных и контрольных операций
Конфигурация под конкретный тип серверного источника питания
Состав испытательных станций определяется техническим заданием проекта

Вакуумная оснастка внутрисхемного контроля Sanwood для серверных плат DPU

Внутрисхемный контроль

Вакуумная оснастка внутрисхемного контроля плат DPU

Контактная оснастка для отработки и серийного контроля серверных плат, печатных плат полупроводниковой электроники и оборудования для вычислений ИИ. Вакуумный прижим повышает стабильность контакта платы с измерительной оснасткой.

Выявление коротких замыканий и обрывов
Контроль отклонений параметров компонентов
Оснастка проектируется под геометрию и контрольные точки конкретной платы

Функциональный контроль

Стенд функционального контроля материнских плат серверов ИИ

Система функциональной проверки материнских плат (MLB) серверов ИИ и систем хранения данных для этапов разработки и серийного производства. Заявлена поддержка высокоскоростной передачи PCIe Gen6 с модуляцией PAM4.

Проверка высокоскоростных сигналов, импеданса и перекрёстных помех
Автоматизированное подключение и отключение соединителей
Конфигурация под интерфейсы и сценарии конкретной материнской платы

Тестер объединительных плат серверов Sanwood

Объединительные платы

Тестер объединительных плат серверов ИИ

Решение для проверки электрических характеристик и надёжности соединений серверных объединительных плат (BP). При работе с PCIe Gen6 и PAM4 особое значение имеют собственные характеристики контактной оснастки и измерительного тракта.

Проверка электрических параметров объединительных плат
Контроль целостности высокоскоростных сигналов
Минимизация влияния оснастки на потери, отражения и перекрёстные помехи

Система электротермотренировки памяти Sanwood

Электротермотренировка

Системы электротермотренировки памяти

Система для температурного и электрического старения полупроводниковых компонентов и электронных модулей (Memory Burn-in). Применяется для выявления ранних отказов при работе изделий под регулируемой температурной нагрузкой и дополняет электрический контроль на производстве.

Испытания микросхем памяти, FLASH, DRAM, микроконтроллеров и других электронных компонентов
Работа с платами электротермотренировки (BIB) и электрически активными образцами
Температурный режим и электрическая часть определяются программой испытаний

Ускоренное старение и ресурсные испытания

Уровни автоматизированных испытаний: чем отличаются этапы

Эти методы решают разные задачи и применяются последовательно. Набор операций выбирают по требованиям к изделию и критериям приёмки, а не по принципу «чем больше проверок, тем лучше».

Таблица прокручивается по горизонтали.

Сравнение уровней автоматизированных испытаний электроники
Уровень	Что проверяется	Что нужно для проектирования
Внутрисхемный контроль (ICT)	Соединения, короткие замыкания, обрывы и параметры компонентов платы	Схема, контрольные точки, допуски, геометрия платы и требования к контактной оснастке
Функциональный контроль (FCT)	Работа платы или собранного электронного узла	Рабочие сценарии, интерфейсы, нагрузки, эталонные отклики и критерии годности
Автоматизированные измерения (ATE)	Автоматизированная последовательность электрических и функциональных измерений	Состав приборов, коммутация, программа испытаний, длительность операций и правила оценки
Электротермотренировка	Поведение изделия или компонента под электрической и температурной нагрузкой во времени	Температурный профиль, питание, длительность, тепловыделение и методика регистрации результата
Линия	Последовательность перемещения, идентификации, испытаний и обработки результата	Плановый такт, накопители, логика маршрута, интерфейсы оборудования и правила работы с негодными изделиями

Важно: такт линии, число каналов, точность измерений и производительность не являются едиными характеристиками всех систем Sanwood. Эти параметры рассчитываются и подтверждаются для конкретной конфигурации.

Как проектируется автоматизированный испытательный маршрут

Сначала фиксируют объект испытаний и критерии годности. Затем определяют измерительную цепь, механику контактирования, последовательность операций и требования к обмену данными.

Контактирование и измерительный тракт

Согласуют разъёмы, контрольные точки, прижим, ресурс контактных элементов и допустимое влияние оснастки на сигнал. Для высокоскоростных интерфейсов это особенно важно.

Последовательность операций

Определяют загрузку, идентификацию, испытание, повторную проверку, обработку брака и разгрузку. Для каждой операции задают условия запуска, завершения и реакции на отказ.

Данные и производственная интеграция

Определяют, какие результаты необходимо сохранять, как идентифицировать изделие и требуется ли обмен с внешней системой управления производством (MES), базой данных или другой системой предприятия.

Что указать в запросе на подбор

Чем точнее исходные данные, тем быстрее можно определить необходимый уровень автоматизации и сформировать технически обоснованную конфигурацию.

Изделие

Тип платы или узла, чертежи, схемы, интерфейсы, варианты исполнения, контрольные точки и требования к контактированию.

Программа испытаний

Измеряемые параметры, сценарии, допуски, критерии годности, правила повторной проверки и требования к протоколу.

Производительность

Плановый такт, объём выпуска, число вариантов изделия, длительные этапы испытаний и требуемый уровень автоматизации загрузки.

Интеграция и инфраструктура

Существующие приборы, нагрузки и оснастка, форматы данных, MES и базы данных, инженерные сети, ограничения площадки и требования безопасности.

Частые вопросы

Нужна ли полноценная линия, чтобы начать автоматизацию?

Нет. Проект может начинаться с отдельной оснастки внутрисхемного контроля, стенда функционального контроля или другой конкретной операции. Если в дальнейшем планируется объединение оборудования в линию, это стоит учесть заранее при выборе интерфейсов, способа загрузки и структуры данных.

Вакуумная оснастка внутрисхемного контроля — это вакуумная испытательная камера?

Нет. В этом решении разрежение используется для стабильного прижима платы к контактной оснастке. Для испытаний изделия при пониженном давлении применяются специализированные высотные или вакуумные камеры.

Можно ли определить такт линии до получения технического задания?

Только ориентировочно. Обоснованный расчёт требует длительности каждой испытательной операции, количества вариантов изделия, способа загрузки, правил повторной проверки и длительных этапов, например электротермотренировки.

Можно ли передавать результаты испытаний в MES или внутреннюю базу данных?

Такую интеграцию рассматривают на этапе проектирования. Для согласования нужны интерфейсы внешней системы, структура данных, правила идентификации изделий и перечень результатов, которые требуется передавать или сохранять.

Автоматизированные электрические испытания дополняются климатическими и ресурсными испытаниями. Для них применяются отдельные специализированные системы.

Обсудить автоматизацию испытаний

Передайте описание изделия, программу испытаний, плановый такт и сведения о текущем производственном процессе. Инженеры ГК «Криосистемы» помогут определить состав оборудования, требования к оснастке и точки интеграции.

Все направления Sanwood Technology →