Полусферический анализатор энергии электронов

R150X — анализатор энергии электронов для XPS

R150X — полусферический энергоанализатор со средним радиусом 150 мм, ориентированный прежде всего на рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (XPS). Модель поддерживает также UPS, ISS и AES и может использоваться как центральный аналитический модуль в составе многометодной вакуумной системы.

XPS UPS ISS AES
Все анализаторы ARPES / XPS
Полусферический анализатор энергии электронов R150X

Ключевые параметры R150X

Основные значения приведены для базовой конфигурации анализатора. Опциональные режимы и расширенный энергетический диапазон следует подтверждать при формировании спецификации.

150 мм
Средний радиус полусферического анализатора
≤ 50 meV
Энергетическое разрешение FWHM при Ep = 2 eV и Ek = 9,1 eV
1–500 eV
Диапазон энергии пропускания (Pass Energy)
40 мм
Рабочее расстояние анализатора

Методы анализа

R150X рассчитан на XPS и поддерживает дополнительные методы электронной спектроскопии, что позволяет строить комбинированные аналитические конфигурации вокруг одного энергоанализатора.

XPS

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Основной режим применения R150X для исследования элементного состава и химического состояния поверхности.

UPS

Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия

Дополнительный метод для исследования электронной структуры валентной области и поверхностных состояний.

ISS

Ионно-рассеивающая спектроскопия

Может использоваться в составе соответствующей конфигурации для анализа верхнего атомного слоя поверхности.

AES

Оже-электронная спектроскопия

Поддерживает многометодные системы, где требуется дополнительный анализ поверхности электронными методами.

Технические характеристики

Параметры исходной конфигурации R150X, использованные для текущей страницы.

Технические характеристики полусферического анализатора R150X
Средний радиус150 мм
Энергетическое разрешение≤ 50 meV FWHM при Ep = 2 eV, Ek = 9,1 eV
Угловое разрешение≤ 0,1° при размере пятна 0,1 мм
Энергия пропускания Ep1–500 eV
Электронная оптикаПятиуровневая система линз с регулируемым напряжением
Режим линзРежим передачи; режим углового разрешения — опция
Диапазон кинетической энергии0,5–1500 eV; до 3500 eV — опция
Режимы измеренияФиксированный и сканирующий
Угол захвата±15°
Рабочее расстояние40 мм
ДетекторМикроканальная пластина (MCP), флуоресцентный экран и 2D CCD
Источник питания анализатораВысокостабильный высоковольтный источник с низким уровнем пульсаций; стабильность ≤ 2 ppm
Щели / апертуры7; прямые, дуговые или круглые
Для спецификации: угловой режим и диапазон до 3500 eV являются опциями. Перед выпуском коммерческого предложения необходимо подтвердить требуемую конфигурацию линз, детектора, апертур и источников возбуждения.

R150X как часть аналитической системы

Сам анализатор является центральным измерительным модулем. Рабочая XPS/UPS/AES/ISS-конфигурация формируется с учётом источника возбуждения, вакуумной камеры, манипулятора образца, требований к вакууму и программно-аппаратному управлению.

01
Источник возбуждения
Рентгеновский, УФ-, электронный или ионный источник — в зависимости от выбранного метода.
02
Образец и манипулятор
Позиционирование образца и геометрия измерения согласуются с рабочим расстоянием анализатора.
03
Анализатор R150X
Электронная оптика формирует и разделяет поток электронов по кинетической энергии.
04
Детектор и регистрация
MCP, флуоресцентный экран и CCD формируют измерительный сигнал для дальнейшей обработки.

Что указать для подбора конфигурации

Для R150X важно подбирать не только сам анализатор, но и его интерфейсы с существующей или проектируемой аналитической установкой.

Параметры измерений

  • Основной метод: XPS, UPS, AES, ISS или комбинированная система.
  • Требуемый диапазон кинетических энергий и энергии пропускания.
  • Необходимость углового режима и целевое угловое разрешение.
  • Типы образцов, размеры зоны анализа и требуемая геометрия измерений.

Параметры установки

  • Существующая или проектируемая вакуумная камера и доступные порты.
  • Источник возбуждения, манипулятор и система загрузки образцов.
  • Требования к вакууму, экранированию и расположению аналитического узла.
  • Необходимость интеграции, монтажа, ПНР и обучения персонала.

Если задача выходит за рамки XPS-ориентированной конфигурации R150X, имеет смысл сравнить её с другими решениями семейства.

Подобрать R150X под Вашу аналитическую установку

Передайте требования к методу измерений, энергетическому диапазону, вакуумной камере и источникам. Инженеры «Криосистем» помогут определить состав анализатора и совместимых узлов для технико-коммерческого предложения.

Cookie-файлы
Настройка cookie-файлов
Детальная информация о целях обработки данных и поставщиках, которые мы используем на наших сайтах
Аналитические Cookie-файлы Отключить все
Технические Cookie-файлы
Другие Cookie-файлы
Мы используем файлы Cookie для улучшения работы, персонализации и повышения удобства пользования нашим сайтом. Продолжая посещать сайт, вы соглашаетесь на использование нами файлов Cookie. Подробнее о нашей политике в отношении Cookie.
Понятно Подробнее
Cookies