Системы рентгеновской спектроскопии поглощения XAFS
Энергетический диапазон 2-5 кэВ
2-5 кэВ
Источник с боковым выходом рентгеновского излучения. Вольфрамовая (W) мишень, мощность источника 100 Вт
Si(111), Si(220), кристалл альфа-кварца
| Детектор |
Матричный детектор (area array тип) |
|---|---|
|
Источник света |
Источник с боковым выходом рентгеновского излучения. Вольфрамовая (W) мишень, мощность источника 100 Вт |
|
Кристалл монохроматора |
Изогнутый кристалл на базе фокусирующей геометрии Йохансона. Размер кристалла 25 мм × 25 мм, радиус 100 мм. |
|
Основные типы кристаллов |
Si(111), Si(220), кристалл альфа-кварца |
|
Энергетический диапазон |
2-5 кэВ |
| Вакуум | 5 ×10-3 Па |
Низкоэнергетический рентгеновский спектрометр поглощения XRF LE-5 использует технологию рентгенофлуоресцентного анализа (XRF) для возбуждения флуоресценции путем облучения образца рентгеновскими лучами. Для сбора флуоресценции детектор реализован на базе изогнутых кристаллов, которые позволяют получать спектры в режиме реального времени. Принцип работы основан на фокусирующей геометрия Йоханссона – изогнутые кристаллы линейно перемещаются, одновременно поворачиваясь на угол θ (угол Брэгга), что позволяет получить полный энергетический спектр.
В запросе укажите Рентгеновский спектрометр поглощения XRF LE-5. Укажите тип образца, задачу анализа, энергетический или угловой диапазон и требуемые условия измерения.
