Инспекционные и исследовательские микроскопы
Микроскоп для поляризационных исследований и контроля материалов
|
Оптическая система
|
CFI60, бесконечная коррекция
|
|---|---|
|
Источник света
|
LED 24 Вт (LV100N POL LED) / Галоген 50 Вт 12 В (LV100POL)
|
|
Диапазон фокусировки
|
30 мм
|
|
Точная фокусировка
|
0,1 мм/оборот, цена деления 1 мкм
|
|
Окуляры
|
CFI 10x (FN 22), 12,5x (FN 16), 15x (FN 14,5)
|
|
Револьвер
|
Пятиместный, центрируемый, DIN-слот
|
|
Предметный столик
|
Круглый, 360°, фиксация каждые 45°, нониус 0,1°
|
|
Конденсор
|
P Achromat, NA 0,9, поворотно-откидной
|
|
Анализатор
|
360°, нониус 0,1°
|
|
Потребляемая мощность
|
58 Вт (LED) / 75 Вт (галоген)
|
|
Масса
|
~17 кг (тринокулярная версия)
|
|
Рабочие условия
|
0–40°C, влажность до 85%, высота до 2000 м
|
Nikon ECLIPSE LV100N POL — специализированный поляризационный микроскоп, предназначенный для исследований в области минералогии, петрографии, геологии и анализа полимерных материалов. Прибор обеспечивает высококачественную визуализацию в режимах диаскопического и эпископического освещения с возможностью проведения ортоскопических и коноскопических наблюдений. Микроскоп оснащён оптической системой CFI60 с бесконечной коррекцией, что гарантирует получение изображений с высокой контрастностью, минимальными аберрациями и превосходной плоскостностью поля.
Микроскоп работает на основе метода поляризационной контрастности. Свет от источника проходит через поляризатор, расположенный в конденсоре, затем проникает через образец, где взаимодействует с его кристаллической структурой. После прохождения через образец свет попадает в анализатор, установленный в промежуточном тубусе. При скрещенном положении поляризатора и анализатора (позиция crossed Nicols) наблюдается интерференционная картина, позволяющая определять оптические свойства материала — двулучепреломление, ориентацию кристаллических осей, ретардацию. Для коноскопических наблюдений в оптический путь вводится линза Бертрана, которая фокусирует изображение задней апертуры объектива, обеспечивая визуализацию интерференционных фигур.
Оптическая система CFI60
Микроскоп использует фирменную бесконечную оптику Nikon CFI60, обеспечивающую числовую апертуру до 0,90 у конденсора и рабочие расстояния, достаточные для работы с объёмными образцами. Объективы серии CFI Achromat P (4x, 10x, 20x, 40x, 100x) и CFI TU Plan Fluor EPI P (5x, 10x, 20x, 50x, 100x) формируют изображение без хроматических и сферических аберраций на всём поле зрения с диаметром до 22 мм.
 |
 |
Источник освещения
Версия LV100N POL LED оснащена светодиодным источником света мощностью 24 Вт с высокой цветопередачей. Светодиодная технология обеспечивает стабильную яркость без тепловых дрейфов фокуса, характерных для галогеновых ламп. В диаскопический тракт встроена линза типа «fly-eye», гарантирующая равномерное распределение яркости по всему полю зрения без виньетирования. Встроенные фильтры NCB11 (баланс цвета) и ND8 (нейтральный, пропускание 12,5%) позволяют корректировать цветовую температуру и интенсивность освещения без изменения напряжения лампы.
 |
 |
 |
Механизм фокусировки
Коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки обеспечивают перемещение столика на 30 мм. Один оборот грубой фокусировки перемещает столик на 14 мм, точной — на 0,1 мм с ценой деления 1 мкм. Механизм ограничения верхнего положения фокуса предотвращает столкновение объектива с образцом при смене препаратов, защищая как оптику, так и образец от механических повреждений.
Прецизионный поворотный столик
Круглый градуированный столик с шарикоподшипниковым механизмом вращения обеспечивает плавное перемещение с фиксацией положения каждые 45°. Шкала вращения 360° с ценой деления 1° и нониусом позволяет считывать углы с точностью до 0,1°. Конструкция столика с опорой вблизи оптической оси и стальными поперечными роликовыми направляющими обеспечивает устойчивость, превышающую стандартные модели в два раза. Опционально устанавливается механический столик с диапазоном перемещения 35×25 мм и нониусом 0,1 мм.
 |
Промежуточный тубус с анализатором Встроенный анализатор поворотного типа вращается на 360° с минимальным шагом считывания 0,1° по нониусной шкале. Линза Бертрана фокусируемая и центрируемая, быстро вводится в оптический путь переключением револьверной головки для перехода между ортоскопическим и коноскопическим режимами. Слот для компенсаторов стандарта DIN принимает пластины P-CL (1/4λ и λ), кварцевый клин P-CQ (измерение ретардации 1–6λ) и компенсатор Сенармонта P-CS (измерение 0–1λ).
 |
Револьвер объективов Пятиместный центрируемый револьвер позволяет установить до пяти объективов одновременно. Все пять позиций подлежат индивидуальной центровке относительно оси вращения столика, что критически важно для точных поляризационных измерений. DIN-слот в револьвере допускает установку компенсатора Берека для измерения ретардации до 1800 нм.
 |
Эпископическое освещение (опция) При установке универсального эпископического осветителя LV-UEPI-N микроскоп поддерживает наблюдения в отражённом свете. Осветитель оснащён собственным светодиодным источником, переключением яркого поля/тёмного поля и фильтрами (NCB11, ND4, ND16). При использовании универсального револьвера и DIC-аксессуаров доступно наблюдение по методу дифференциально-интерференционного контраста.
 |
 |
 |
 |
 |
|
В запросе укажите Поляризационный микроскоп Eclipse LV100N. Укажите тип и размеры образца, методы контрастирования, необходимость моторизации и регистрации изображений.
