Спектрометры и монохроматоры
Система рентгеновского определения ориентации монокристаллов
| Наименование системы | Система определения ориентации кристаллов МТ-7ВGA |
|---|---|
| Производитель | Китай |
| Диаметр обрабатываемого образца | до 200 мм |
| Длина обрабатываемого образца | до 300 мм |
| Диапазон измеряемых углов 2θ | 0° – +120° |
| Тип рентгеновской трубки | Медная (Cu), воздушное охлаждение |
| Максимальное напряжение на трубке | 30 кВ |
| Ток на трубке | 0 – 1 мА, плавная регулировка |
| Точность измерения | ±30 угловых секунд |
| Разрешающая способность (мин. отображение) | 1 угловая секунда |
| Потребляемая мощность | не более 800 Вт |
| Электропитание | 220 В ±10%, 50 Гц, однофазное |
Рентгеновская система контроля монокристаллов МТ-7ВGA представляет собой высокоточное оборудование, специально разработанное для контроля ориентации кристаллографических осей производимых и исследуемых монокристаллических подложек. Комплекс обеспечивает точное определение качества изготовления монокристаллических материалов и выявление отклонений от заданных кристаллографических параметров.
Основное назначение системы – достоверный контроль кристаллографической ориентации и оценка монокристальности образцов. Оборудование выявляет отклонение ориентации основного кристалла от номинальных значений и определяет наличие разноориентированных кристаллитов в структуре материала.
Принцип работы основан на рентгеновской дифракции. Медная рентгеновская трубка генерирует излучение, которое, попадая на кристалл, отражается под определенными углами в зависимости от его атомной структуры. Высокочувствительный сцинтилляционный детектор улавливает отраженные лучи, а оператор, вращая образец, вручную находит положение максимальной интенсивности (пик), которое соответствует главной кристаллографической оси.
Установка обладает рядом отличительных особенностей. Она поддерживает множество типов измерительных столов и держателей, что обеспечивает исключительную гибкость при работе с образцами нестандартных размеров и выполнении специальных измерительных задач. В базовую комплектацию входит универсальный столик с возможностью наклона ±15°, а также набор специализированных держателей для булей и пластин, включая V-образный роликовый механизм для контроля ориентации по цилиндрической поверхности слитка и двухкоординатный держатель для торцевой поверхности. Диапазон измеряемых углов 2θ составляет от 0° до +120°, что позволяет работать с широким спектром кристаллографических плоскостей.
Для гарантии точности измерений система поставляется со стандартными образцами (кварцевыми пластинами), которые используются для периодической поверки и калибровки оборудования. Конструкция прибора, несмотря на возможность ручного управления, включает в себя современный человеко-машинный интерфейс на основе сенсорного дисплея для отображения результатов и настроек.
Большой столик. Предназначен для работы со слитками длиной от 100 до 300 мм, а также для измерения поверхности пластин. Подходит для монокристаллов кремния, сапфира, ниобата и танталата лития, арсенида галлия и других кристаллов среднего размера.
Малый столик. Предназначен для работы с малыми слитками длиной до 100 мм и измерения поверхности пластин. Оптимален для работы с карбидом кремния, ниобатом и танталатом лития, нитридом галлия и другими малыми кристаллами.
Керамическая пластина. Специализированный держатель для измерения торцевой поверхности пластин. Отличается износостойкостью и подходит для работы с кварцевыми пластинами и лазерными кристаллами.
Держатель для ориентационного среза. Позволяет точно измерять ориентационный срез на монокристаллических пластинах различных типов.
Наклонный столик. Столик для образцов с возможностью наклона в диапазоне ±15°. Необходим для измерения арсенида галлия, монокристаллического германия, ниобата и танталата лития и других кристаллов.
В запросе укажите Установка определения ориентации монокристаллов MT-7BGA. Укажите тип образца, задачу анализа, энергетический или угловой диапазон и требуемые условия измерения.
