Керр-микроскопы
Вертикальное магнитное поле до 1.4 Тл, горизонтальное магнитное поле до 1.4 Тл
| Тип системы | Система для локального исследования и визуализации на базе магнитооптического эффекта Керра |
|---|---|
| Основной модуль системы | Система автоматического анализа с высоким разрешением на базе оптического микроскопа с моторизацией столика и фокуса |
| Камера | Высокоскоростная съемка, динамический диапазон 30 000:1, квантовая эффективность >80% |
| Пространственное разрешение | 220 нм |
| Комплект объективов микроскопа | Немагнитные объективы со сверхдальним рабочим расстоянием 5X, 20X, 50X, 100X |
| Осветитель микроскопа | Интеллектуальная система освещения с настраиваемым углом освещения (разрешение 2 градуса, при 50 X, NA 0,55) |
| Вертикальное магнитное поле | Максимальное поле 1,4 Тл (при работе без температурных приставок).
Максимальное поле 0,7 Тл (при работе с криоприставками). |
| Плоскостное магнитное поле | Максимальное поле 1,4 Тл (при работе без температурных приставок).
Максимальное поле 0,36 Тл (при работе с криоприставками). |
| Неоднородность магнитного поля | Менее 2% |
| Дискретность регистрации магнитного поля | 0,01 мТл |
| Тип охлаждения электромагнитов | Воздушное охлаждение; |
| Функции программного обеспечения | Управление параметрами: оптический контроль, контроль магнитного поля, контроль напряжения и импульсного тока, температурный контроль и др.
Настройка параметров сигналов: форма волны, амплитуда, частота, временная задержка. Отображаемые данные: показания тока и магнитного поля в реальном времени, отображение петли гистерезиса. Обработка изображений: обработка в реальном времени, включая вычитание фонового шума, автокоррекция дрейфа, коррекция вибраций. |
| Виброзащита микроскопа | Антивибрационная платформа с компрессорной подкачкой |
| Температурные приставки (опция) | От 77 К до 350 К (конфигурация для работы с жидким азотом).
От 4.2 К до 350 К (конфигурация для работы с жидким гелием). От 10 К до 350 К (система с замкнутым циклом охлаждения система) |
| Зондовая станция (опция) | DC, ВЧ щупы |
| Исследование транспортных свойств (electric transport function, опция) | Совместимость с мультиметрами с источником питания, синхзронными усилителями и осциллографами фирм Keithley, SRS, Zurich Instruments и др. (в зависимости о требований заказчика) |
| Питание системы | 220В/50 Гц |
| Мощность системы | 3 кВт |
| Вес системы | 750 кг |
Керр микроскоп серии YP-1407 – это система для локального исследования и визуализации магнитооптического эффекта Керра. Прибор позволяет наглядно и точно исследовать пространственное распределение и состояние намагниченности в магнитных материалах и устройствах во времени. Керр микроскоп серии YP-1407 используется для визуализации магнитных доменов, исследования динамики магнитных материалов и спинтронных устройств, наблюдения поведения магнитных доменов в тонких пленках, магнитных и других материалах.
Спинтроника, как перспективное направление науки и технологий, продолжает привлекать внимание благодаря своим приложениям в таких областях, как разработка магнитных сенсоров, создание энергонезависимой памяти и исследование свойств материалов. Её роль не ограничивается фундаментальными исследованиями — она активно интегрируется в промышленные решения, что подчеркивает её междисциплинарную значимость. Ключевым аспектом в изучении магнетизма является возможность прямого наблюдения за магнитными доменами и их динамикой. Анализ движения доменных стенок позволяет визуализировать процессы перемагничивания, что критически важно для понимания физических механизмов, лежащих в основе спиновых явлений. С выполнением данной задачи хорошо справляется Керр микроскопия.
В отличие от традиционных методов измерения магнитных свойств материалов, Керр микроскопия обеспечивает принципиально новый уровень детализации при проведении исследования. Керр микроскопы серии YP-1407 сочетают в себе возможность получения изображений магнитных доменов в реальном времени с субмикронным разрешением (менее 0,5 мкм) за счет гибкого управления внешним магнитным полем – прибор позволяет подавать сигналы как для генерации постоянного магнитного поля, так и импульсные, СВЧ и другие сигналы для создания специального поля. Керр микроскоп позволяет исследовать не только статические, но и динамические процессы, включая переключение намагниченности под действием различных полей.
Керр микроскопы серии YP-1407 отличаются высокой точностью измерений: угловое разрешение магнитооптического эффекта Керра достигает 0,0001 градуса, а встроенные датчики магнитного поля обеспечивают считывание показаний с шагом 0,01 мТл. Система может быть также опционально оснащена криоприставками и ячейками нагрева для работы в широком диапазоне температур от -270°C до 600°C.
|
||
|
А. Движение доменных стенок под действием поля. Дендритные магнитные домены в гетероструктуре Ta (4 нм)/CoFeB (0.7 нм)/MgO (2 нм)/Ta (2 нм). Белые стрелки указывают направление магнитных моментов в доменных стенках Нееля и направление движения стенок. Б. Скирмионная память (SK-RM). Лабиринтные домены в структуре CoTb (6 нм)/SiN (4 нм). Зафиксированы скирмионы размером ~1 мкм, формирующиеся вблизи нулевого магнитного поля. |
|
|||||
В
|
|||||
|
||||
|
|
|
||||
|
А. Движение доменных стенок под действием поля+180 Э в пленках CuCr2Te/Cr2Te3 при 290 K.. Б. Движение доменных стенок под действием поля -180 Э в пленках CuCr2Te/Cr2Te3 при 290 K. |
||||
|
||
В
|
Импульсный ток вызывает движение и переключение доменных стенок при Hz = 0 Э, Hx = 0 Э.
|
||
|
Импульсный ток вызывает движение и переключение доменных стенок при Hz = 0 Э, Hx = 0 Э. Изображения MOKE переключения в структуре Pt (1.5 нм)/Co (0.6 нм)/Pt (клиновидный слой) при: А. увеличении тока по шагам в последовательности 1, 2, 3, 4, 5, 6. Б. увеличении тока по шагам в последовательности a, b, c, d, e, f (при толщине верхнего слоя Pt = 2.5 нм). |
 А
|
 В |
|
Б |
|
Г |
|
|
А. Схема измерения эффективного поля DMI (HDMI). Б. Анизотропное расширение доменных стенок под действием плоскостного поля. В. Асимметричная скорость движения стенок в зависимости от приложенного поля для пленок с разными покрытиями. Г. Схема наклонной доменной стенки из-за HDMI. |
|
Исследование доменной структуры образца CoFeB (кобальт-железо-бор)
В запросе укажите Cистема Керр-микроскопии серии YP-1407. Укажите тип и размеры образца, диапазон магнитного поля, температуру измерений и требуемые измерительные методики.
