Модуль катодолюминесценции CL электронного микроскопа KYKY — это последнее поколение детекторов катодолюминесцентной визуализации и спектроскопического анализа. CL детекторы регистрирует люминесцентное излучение материала, испускаемое при его облучении пучком электронов с помощью катода электронного микроскопа. Для регистрации CL сигнала, детектор использует особый резонатор-монохроматор с прямой связью (высокочувствительный сенсор), обеспечивающий значительное улучшение эффективности сбора катодолюминесцентного сигнала в сравнении с другими детекторами (меньшие потери сигнала, большая светочувствительность в регистрируемом спектральном диапазоне).
Особенности детектора катодолюминесценции CL:
- высокое пространственное и спектральное разрешение (за счет узкой полосы пропускания и высокой монохроматичности регистрируемого излучения);
- короткое время сбора сигнала;
- анализ катодолюминесценции образцов, с слабой люминесценцией. Например, тонкие пленки, нанопроволоки, наночастицы и образцы для ПЭМ.
Анализ катодолюминсцении полупроводниковых материалов и электронных приборов
Модуль катодолюминесценции CL электронного микроскопа KYKY позволяет анализировать полупроводниковые материалы, оптоэлектронику, фотогальванические элементы и многое другое. Возможно исследование, например, тонких нитридных пленок , наноструктурированных оснований (включая наноструктурированные оксиды ZnO1, ZrO2, и Y3Al5, O12 и др.), гетеропереходов, редкоземельных металлов и др. Хотя кремний является слабым излучателем света, высокая эффективность сбора CL детектора позволяет обнаруживать излучения материала, что делает детектор важным инструментом для определения характеристик, например, фотогальванических кремниевых элементов.

Анализ катодолюминсцении в геологии
В геологии, минералогии, детектор катодолюминсцении можно использовать для определения происхождения материала и анализа процессов диагенеза, наблюдения за залечивающимися трещинами и др. При анализе металлов детектор поможет в исследовании поверхностных плазмонных мод.
Также, CL детектор может использоваться в фармацевтике, судебно-медицинском деле или пищевой промышленности.
Примеры исследуемых материалов
- A. Метаморфическая перекристаллизация поверхности поликристаллического алмаза. Доктор Э. Виченци, Смитсонийский институт, Вашингтон, округ Колумбия.
- B. Структура Теллурид кадмия-цинка CdZnTe с дефектами границ субзерен. Легирование, сегрегация примесей, двойникование и дефекты корпусирования.
- C Анализ дефектов пирамидальной структуры Нитрид алюминия-галлия AlGAN.
- D Сечение пленки Нитрид алюминия-галлия AlGAN. Композитное изображение, псевдоцвет, температура 6K. Доктор У. Джан, Институт Пауля Друде, Берлин
- E Структура квантовой ямы Арсенид алюминия-галлия GaAs/AlAs/AlGaAs и барьерные слои. Доктор К. Норман, Toshiba Research Europe Ltd.
- F. Сечение тонкой пленки FGaN. Составные изображения дефектов корпусирования, точечных дефектов и люминесценции зонной структуры. Псевдоцвет, температура 6К.
- G. ELO-структура G-нитрида. Образец предоставлен профессором Саваки, Университет Нагоя, изображение предоставлено г-ном Янагихарой.
- H. Трещины и залеченные трещины кристалла кварца. Доктор Р. Рид, Бюро экономической геологии Техасского университета.
- I. Вид сверху GaN, показывающий винтовые дислокации и сегрегацию примесей.

