
Прямой или инвертированный микроскоп
Для микроскопии на пропускание и отражение, ИК-микроскопии и конфокальных измерений согласуют доступ объектива, высоту образца, крепление столика и свободное пространство вокруг камеры.
Physike · Жидкоазотные криостаты
Исследование образца в вакууме при 78,5–500 К с оптическим доступом через объектив микроскопа. Компактная конструкция рассчитана на рабочее расстояние от 2 мм и интеграцию с прямыми, инвертированными и конфокальными оптическими системами.
Для подбора укажите модель микроскопа, объектив, размер образца и требуемый температурный режим.
Образец, объектив и охлаждение
В V-200 сочетаются приподнятая платформа образца, компактный корпус и оптический доступ с малым рабочим расстоянием. Это позволяет проводить температурные исследования в существующей оптической схеме.
Компенсация температурного дрейфа и жёсткая опорная конструкция с малыми теплопритоками предназначены для измерений, чувствительных к перемещению образца. Гибкая линия подвода жидкого азота позволяет разместить источник охлаждения отдельно от измерительного узла.
Окно, держатель и объектив согласуют как единый узел: учитывают рабочее расстояние, апертуру и положение поверхности образца.
Гибкая сверхтеплоизолированная линия с игольчатым клапаном входит в базовую конструкцию. Для малых вибраций предусмотрена отдельная вакуумная теплоизолированная магистраль.
Криостат массой 1,5 кг можно адаптировать к ручному или моторизованному трансляционному столику. При подборе согласуют посадочные размеры и допустимую нагрузку.
Рабочие условия и геометрия
Температура, вибрации и пространственный дрейф описывают разные стороны эксперимента. При выборе конфигурации их рассматривают вместе с оптикой, образцом и способом подвода азота.
| Параметр | Значение | Условия и пояснения |
|---|---|---|
| Среда образца | Вакуум | Образец находится в вакуумной камере. |
| Диапазон температур | 78,5–500 К | Охлаждение жидким азотом и регулирование температуры образца. |
| Стабильность температуры | ±25 мК | Параметр терморегулирования; его не следует отождествлять с пространственным дрейфом. |
| Уровень вибраций | ±5 нм | С вакуумной теплоизолированной магистралью, устраняющей пузырьки жидкого азота. |
| Уровень дрейфа | < 2 нм/мин | С той же магистралью для подавления пузырьков азота. |
| Масса криостата | 1,5 кг | Учитывается при выборе столика и крепления. |
| Минимальное рабочее расстояние | 2 мм | Оптический узел согласуют с конкретным объективом. |
| Толщина компактного корпуса | 3 см | Габарит криостата, влияющий на размещение в оптической системе. |
| Длина криостата | 29 см | Габарит устройства для компоновки экспериментальной установки. |
| Ориентация при установке | Любая | Крепление и трассировку магистралей согласуют с выбранной ориентацией. |
| Расход жидкого азота | Около 0,2 л/ч | Типовое значение; режим работы задают при подборе. |
| Первоначальное охлаждение | < 10 мин | Время первоначального охлаждения криостата. |
На узком экране таблицу можно прокручивать по горизонтали.
Для микроскопии важен не только выход на заданную температуру, но и положение исследуемой области относительно фокуса. Температурную стабилизацию, вибрации и дрейф оценивают по отдельности.
В требованиях к эксперименту укажите длительность регистрации сигнала, размер исследуемой области и допустимое смещение образца. Эти данные помогут выбрать магистраль и согласовать режим измерений.
Технический каталог Vcryo · PDFКонфигурация под эксперимент
Оптические и электрические интерфейсы выбирают под методику измерения. Состав вакуумной, измерительной и управляющей частей фиксируют в согласованной комплектации.
| Узел или опция | Назначение | Данные для выбора |
|---|---|---|
| Оптические окна | Доступ к образцу в нужном спектральном диапазоне. | Длины волн, пропускание или отражение, рабочее расстояние. Для UV, VIS, IR и THz выбирают соответствующий материал окна. |
| Держатель образца | Размещение образца и подвод измерительных контактов. | Геометрия, способ фиксации, оптические или электрические измерения, расположение контактов. |
| Вакуумные вводы | Подключение внешнего измерительного оборудования. | Типы сигналов, число линий, разъёмы и требования к изоляции. |
| Кабели и измерительные линии | Связь образца с приборами через вакуумную границу. | Схема измерения, интерфейсы приборов и расположение оборудования. |
| Вакуумная теплоизолированная магистраль | Устранение пузырьков жидкого азота для снижения вибраций и дрейфа. | Допустимое смещение образца, длительность измерения и трасса подвода азота. |
| Вертикальный удлинитель | Вертикальная установка на трансляционный столик, интеграция со спектрометром. | Направление ввода образца, положение оптической оси и размеры рабочего пространства. |
Материал окна, держатель и набор вводов согласуют для конкретного исполнения.
Оптический тракт и механика
Криостат можно адаптировать к большинству коммерческих микроскопов и спектрометров. Совместимость конкретной установки определяют по объективу, геометрии образца и механическим интерфейсам.

Для микроскопии на пропускание и отражение, ИК-микроскопии и конфокальных измерений согласуют доступ объектива, высоту образца, крепление столика и свободное пространство вокруг камеры.

Вертикальный удлинитель помогает разместить образец в требуемой плоскости. Для другого спектрометра согласуют высоту оптической оси, входной проём, диапазон перемещения и подвод магистралей.
V-200 используют для температурных исследований оптических и электрических свойств материалов. Методика определяет набор окон, держателей, вводов и требования к стабильности положения образца.
| Направление | Методы | Что задать при подборе |
|---|---|---|
| Оптическая микроскопия | Прямые и инвертированные микроскопы, ИК- и конфокальная микроскопия; поглощение, пропускание и отражение. | Объектив, рабочее расстояние, апертура, расположение образца. |
| Спектроскопия | Raman-спектроскопия, Фурье-спектроскопия (FTIR), микрофотолюминесценция (PL) и электролюминесценция (EL). | Спектральный диапазон, схема возбуждения и сбора сигнала, электрические контакты. |
| Магнитооптика и электрические измерения | Микроскопическая магнитооптика, измерения в магнитном поле, эффект Холла. | Геометрия магнита, направление поля, схема контактов и вводов. |
| Физика высоких давлений | Оптические исследования с алмазными наковальнями (DAC). | Чертёж ячейки, габариты, крепление и оптический доступ. |
| Рассеяние и физика высоких энергий | Рентгеновские исследования (X-ray), нейтронное рассеяние. | Направление пучка, окна, пространство вокруг образца и геометрия установки. |
| Материаловедение | Исследования солнечных элементов, сверхпроводящих материалов и теплопереноса при низких температурах. | Образец, схема измерения, температурный цикл и требования к сигналу. |
Подготовка технического задания
Укажите параметры эксперимента и приложите схему размещения или фотографию измерительной установки. По этим данным можно согласовать оптический узел, крепление, магистраль и измерительные интерфейсы.
| Группа данных | Что указать |
|---|---|
| Измерительная система | Производитель и модель микроскопа или спектрометра; прямая или инвертированная схема. |
| Объектив и оптика | Модель объектива, рабочее расстояние, числовая апертура, длины волн возбуждения и регистрации. |
| Образец | Размеры, форма, материал, способ крепления, расположение электрических контактов. |
| Температурный цикл | Минимальная и максимальная температура, последовательность точек, длительность выдержки и измерения. |
| Вибрации и дрейф | Допустимое смещение, размер исследуемой области, длительность накопления сигнала. |
| Механическая интеграция | Размеры рабочего пространства, тип столика, крепления, ориентация, чертежи магнита или DAC при их использовании. |
| Инфраструктура | Имеющиеся вакуумные насосы, средства контроля вакуума и температуры, источник жидкого азота, размещение приборов. |
| Поставка и сопровождение | Нужная комплектация, документация, сроки проекта, требования к монтажу, пусконаладочным работам и обучению. |

«Криосистемы» помогают сформулировать техническое задание, подобрать оборудование и согласовать его подключение к действующей лабораторной инфраструктуре.
В коммерческом предложении согласуют состав поставки, стоимость, сроки, документацию, необходимость монтажа, пусконаладочных работ, обучения и дальнейшего сервисного сопровождения.
Вакуумная обвязка и измерительная часть должны соответствовать задаче; их состав определяют вместе с конфигурацией криостата.
Криостат рассчитан на адаптацию к коммерческим прямым и инвертированным оптическим микроскопам, ИК- и конфокальным системам. Для конкретного прибора нужны модель, параметры объектива, размеры рабочего пространства и чертёж крепления. Минимальное рабочее расстояние 2 мм само по себе не определяет совместимость всей оптической схемы.
Вибрации ±5 нм и дрейф менее 2 нм/мин указаны для V-200 с вакуумной теплоизолированной магистралью, устраняющей пузырьки жидкого азота. Эту магистраль выбирают отдельно; для чувствительных измерений её предусматривают в составе поставки.
Окна выбирают по спектральному диапазону, рабочему расстоянию и схеме измерения. Для UV, VIS, IR и THz требуется соответствующее пропускание материала. Если в одном эксперименте используются разные диапазоны, их перечисляют при подборе комплектации.
Да. Предусмотрен вертикальный удлинитель для установки на трансляционный столик. Пример такой интеграции — спектрометр Hitachi UH4150. Для другого прибора согласуют высоту образца, крепление и свободное пространство.
Магнитооптические исследования с электромагнитами и сверхпроводящими магнитами с тёплым каналом, а также задачи с алмазными наковальнями входят в области применения V-200. Конфигурацию подбирают по геометрии магнита или ячейки, оптическому доступу и измерительным подключениям.
V-200 ориентирован на микроскопию и малое рабочее расстояние. Для универсальных экспериментов с образцом в вакууме можно рассмотреть V-100, а для образца в среде холодного азота — VP-100. Выбор начинается со среды образца, метода измерения и способа интеграции.