| Параметр | Значение |
|---|---|
| Диапазон регулирования температуры | < 3 – 325 K |
| Среда в зоне образца | Статический гелий |
| Время первичного охлаждения | < 180 мин при 4 K |
| Внутренний диаметр трубки образца | 51 мм |
| Холодная головка | 4K GM или импульсно-трубный криорефрижератор |
| Стабильность температуры | ±25 mK |
| Минимальная температура (GM 1W @ 4,2K) | < 2,8 K |
| Примечание | Параметры приведены на базе GM-криорефрижератора 1 W @ 4,2 K |
TL-4K предусматривает выбор между GM-криоголовкой и импульсно-трубным криоохладителем с различной холодопроизводительностью для оптимального соответствия требованиям эксперимента и бюджету заказчика. GM-криоголовки доступны с холодопроизводительностью от 1 W до 4 W при 4,2K, импульсно-трубные — с холодопроизводительностью 1 W и 1,5 W при 4,2K. Импульсно-трубный криоохладитель с раздельным клапанным блоком обеспечивает пространственное разделение источника механических вибраций и холодной головки, что снижает вибрационное воздействие на образец. Дополнительно доступна опция достижения температуры 1,5K в режиме single-shot, расширяющая температурный диапазон системы без перехода на более дорогостоящий криорефрижератор класса 1,5K. Верхний температурный предел может быть расширен до 500K или 800K за счёт установки соответствующего высокотемпературного стола и держателей образцов из жаропрочного сплава.
| Направление | Методы и задачи |
|---|---|
| Электрические измерения | Электротранспортные измерения, диэлектрические измерения, измерения эффекта Холла |
| Оптика и спектроскопия | Ближнепольная оптика, ИК / THz, мёссбауэровская спектроскопия, FTIR |
| Магнитные измерения | Магнитные измерения, ESR / EPR, NMR |
| Физика высоких энергий и давлений | X-ray, нейтронное рассеяние, алмазная наковальня (DAC) |
| Материаловедение | Сверхпроводящие материалы, низкоразмерные материалы, испытания на растяжение при низких температурах |
| Квантовые технологии | Квантовые устройства, микроволновые приборы, скрининг квантовых кубитов |
| Опция | Описание |
|---|---|
| Внутренний диаметр трубки | Заказной (индивидуальный) внутренний диаметр |
| Окна — оптика | Видимый свет, ИК, THz |
| Окна — X-ray | Mylar / Kapton |
| Окна — нейтроны | Тонкий алюминий / сапфир |
| Конденсационная изотермическая зона | Для эффективного охлаждения образцов с низкой теплопроводностью |
| Опция | Описание |
|---|---|
| Вращающийся шток — одноосный | Вращение образца по одной оси при криогенных температурах |
| Вращающийся шток — двухосный | Вращение образца по двум осям при криогенных температурах |
| Шток для давления in situ | Регулирование давления непосредственно в криостате |
| Шток для деформационных испытаний | Упругие (деформационные) испытания образца при низких температурах |
| Шток для AC магнитной восприимчивости | Измерение магнитной восприимчивости методом AC |
| Вакуумный шток | Для тепловых экспериментов в вакуумной среде |
| Опция | Описание |
|---|---|
| Подвес криоголовки | «Плавающее» крепление с виброизоляцией |
| Разделение клапанного блока | Импульсно-трубный криорефрижератор с раздельным (вынесенным) клапанным блоком |
| Антивибрационный песчаный бокс | Дополнительное виброгашение системы |
| Опция | Описание |
|---|---|
| Держатель PUCK | Для электрических измерений; разъём 16-pin |
| Держатель LCC | Для электрических измерений в корпусе LCC |
| Держатель DIP | Для электрических измерений в корпусе DIP |
| Линии — постоянный ток | Двужильные низкотемпературные; витая пара |
| Линии — коаксиальные | Гибкий коаксиальный; полужёсткий (semi-rigid) коаксиальный |
| Линии — специальные | Триаксиальные; оптоволоконные |
| Опция | Описание |
|---|---|
| Опция single-shot 1,5 K | Достижение температуры 1,5 K в однократном режиме |
| Удлинённая тонкая хвостовая часть | Совместимость со сверхпроводящим магнитом / электромагнитом с комнатнотемпературным отверстием |
| Верхний температурный предел 500 K | Расширение диапазона до 500 K |
| Верхний температурный предел 800 K | Расширение диапазона до 800 K; высокотемпературный держатель из сплава 800K |
| Увеличенная холодопроизводительность | Выбор криоголовки с повышенной мощностью при 4,2 K |
| Более низкая минимальная температура | Ниже стандартного значения 2,8 K |
Acryo® TL-4K применяется в широком спектре низкотемпературных исследований, где требуется сочетание температур ниже 4K с удобной заменой образца и совместимостью с различными измерительными методами. В электрических измерениях система используется для транспортных измерений, исследований эффекта Холла, диэлектрической спектроскопии и характеризации полупроводниковых структур. В оптике и спектроскопии — для ближнепольной оптики, ИК и THz измерений, мёссбауэровской спектроскопии и FTIR. В магнитных измерениях — для ESR/EPR и NMR в сочетании с внешними магнитными системами. В физике высоких энергий и давлений — для рентгеновских исследований, нейтронного рассеяния и экспериментов с алмазными наковальнями (DAC). В материаловедении — для исследования сверхпроводящих и низкоразмерных материалов, а также испытаний на растяжение при криогенных температурах. В квантовых технологиях — для скрининга квантовых устройств, испытаний микроволновых компонентов и характеризации сверхпроводящих схем при температурах ниже 3K.
Оставьте заявку — мы подготовим индивидуальное коммерческое предложение с учётом ваших технических требований, сроков и бюджета.
Мы работаем с комплексными и нестандартными задачами для промышленности, науки и высокотехнологичных отраслей.
Инженер компании внимательно изучит вашу заявку, свяжется для уточнения деталей, проведёт предварительную консультацию и, при необходимости, поможет сформулировать техническое задание.
Наши эксперты обеспечат:
