ВРЕМЯ РАБОТЫ
пн-пт: 09.00 -18.00
  • ОСТАВИТЬ ЗАЯВКУ
ТЕЛЕФОН:
+7 (495) 215-55-65
ГРАФИК РАБОТЫ:
Научно-исследовательское оборудование

Er-LEED, Auger, XPS, TOF SIMS и др.

Анализ поверхности образцов методами времяпролетной масс-спектрометрии


Английская компания Kore (http://www.kore.co.uk) спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м. 

  • Анализ поверхности методом ВИМС
  • Поверхностная масс-спектрометрия
  • Анализ проводников и диэлектриков
  • Анализ положительных и отрицательных вторичных ионов
  • Разрешение лучше чем 2000 M/?M (возможно до 3000 )
  • Анализатор типа Рефлектрон
  • Диапазон исследуемых масс >1000m/z
  • Возможность распыления образца для очистки поверхности
  • 5 мин откачки для начала анализа образца
  • Пролучение спектра образца в течение менее минуты
  • Компактный прибор
  • Очень доступная цена
  • Есть возможность дооснащения

В нашей компании вы можете выбрать и купить научно-исследовательское и аналитическое оборудование, узнать характеристики и подобрать модель, исходя из вашего технического задания. Актуальная цена на вакуумное оборудование предоставляется по запросу. Свяжитесь с нами любым удобным для вас способом.

ЗАПРОСИТЬ КОНСУЛЬТАЦИЮ ПОСМОТРЕТЬ КОНТАКТЫ
Cookie-файлы
Настройка cookie-файлов
Детальная информация о целях обработки данных и поставщиках, которые мы используем на наших сайтах
Аналитические Cookie-файлы Отключить все
Технические Cookie-файлы
Другие Cookie-файлы
Мы используем файлы Cookie для улучшения работы, персонализации и повышения удобства пользования нашим сайтом. Продолжая посещать сайт, вы соглашаетесь на использование нами файлов Cookie. Подробнее о нашей политике в отношении Cookie.
Понятно Подробнее
Cookies